芯片、三極管、場效應管等。除電阻器外，所有半導體器件都可能由于以下原因而損壞:

元器件出廠就有問題，元器件死，電壓擊穿。

以下是關(guān)于ECU損壞原因的相關(guān)介紹:

部件出廠時就有問題:

可能體現(xiàn)在服役時間短，但就目前半導體元器件的制造水平而言，這種概率相當小。

組件壽命終止:

有一個常識大家應該知道，電子元器件即使溫度升高，即使在正常允許的工作范圍內(nèi)，電子元器件的使用壽命也會明顯降低。但當超過正常工作溫度范圍時，一些器件如MOS管的內(nèi)阻會變大，進而導致溫升更高，形成惡性循環(huán)。

電壓擊穿:

任何電子元件都有一定的工作電壓范圍和耐受擊穿電壓。當電壓高到一定程度時，器件中原本不導電的部分變成導電的。ECU的內(nèi)部電路受到來自外部的高電壓的影響，并通過線束連接器進入。一個設計良好的ECU是為了防止這些可能的危害，有過壓保護電路，但沒有這些設計的電路幾乎不可能實用。